探測器類型：硅光二極管。

測量波長范圍：300 - 390nm。

峰值靈敏度波長：約 355nm。

探測器窗口直徑：φ3mm。

測量功能豐富：具備實時照度測量、峰值測量、累計光量測量、偏差測量等多種功能，可滿足不同場景下對紫外線測量的需求。

使用便捷：裝置采用耐熱金屬機身，附帶耐熱蓋，能在一定程度上抵御高溫環(huán)境，確保測量更穩(wěn)定。設(shè)有根據(jù)光源照度設(shè)定最佳范圍的自動模式，操作更加簡單方便，提高了測量效率。通過安裝 2m 延長裝置（另售），可將受光部設(shè)置在遠程位置進行測量，增加了測量的靈活性。

數(shù)據(jù)處理與輸出方便：標準配備內(nèi)置存儲器、USB 輸出、模擬輸出，可方便地存儲和傳輸測量數(shù)據(jù)。標配可在 PC 上使用的測量程序，便于對測量數(shù)據(jù)進行進一步的分析和處理。

供電方式靈活：支持 USB 總線供電操作，也可使用 3 節(jié) AAA 電池（市售）供電，方便在不同環(huán)境下使用。

輻照度顯示范圍：分為多個量程，分別是 0.01 - 60.0mW/cm2、0.1 - 600.0mW/cm2、1 - 6000mW/cm2。

積分輻照度范圍：分為多個量程，分別是 0.01 - 999.99mJ/cm2、0.1 - 9999.9mJ/cm2、1 - 99999mJ/cm2。

模擬輸出：不同量程下，1mV 對應(yīng)的輻照度分別為 0.03mW/cm2、0.3mW/cm2、3mW/cm2。

校準精度：±2%。

線性度：±3%。

數(shù)據(jù)采樣：50Hz 時采樣時間為 10ms，采樣率為 50 次 / 秒；60Hz 時采樣時間為 8.33ms，采樣率為 60 次 / 秒。

工業(yè)生產(chǎn)：適用于電氣和電子元件的固化、密封和粘合處理過程中紫外線照射設(shè)備的燈強度管理。在印刷電路板的印刷、干燥和安裝線中，可用于監(jiān)測紫外線照射設(shè)備，確保紫外線照射強度符合工藝要求。也可用于半導體、FPD 等光刻工藝中，管理光刻設(shè)備中的曝光燈，保證光刻工藝的精度和一致性。

設(shè)備維護：適用于各種 UV 照射設(shè)備 UV 燈的維護和管理，如 UV 消毒設(shè)備、滅菌設(shè)備、改性設(shè)備、固化設(shè)備、清洗設(shè)備、表面處理設(shè)備等。通過定期測量紫外線強度，可及時發(fā)現(xiàn) UV 燈的老化或故障，以便及時更換或維修，保證設(shè)備的正常運行。

研發(fā)與制造：在各種 UV 燈開發(fā)部門、制造工序中，可用于檢查及評估 UV 燈的性能，幫助優(yōu)化 UV 燈的設(shè)計和生產(chǎn)工藝。