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日本OTSUKA玉崎科學供應大冢FE-300光學膜厚量測儀$n日本OTSUKA玉崎科學供應大冢光學膜厚量測儀$n這是一款小型、低成本的膜厚計，采用高精度光學干涉法測量膜厚，操作簡單。$n我們采用一體式外殼，將必要的設備存儲在主體內(nèi)，實現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。$n盡管價格低廉，但也可以通過獲得絕對反射率來分析光學常數(shù)。

OTSUKA日本大塚電子高靈敏度光譜HS-1000輻射計$nOTSUKA日本大塚電子高靈敏度光譜輻射計$n這是一款光譜輻射亮度計，可以從低亮度到高亮度進行高速且高精度的測量。$n利用熱電冷卻線性陣列傳感器，大冢電子光譜光學設計和信號處理電路在寬亮度和波長范圍內(nèi)實現(xiàn)了低噪聲、高精度測量。

現(xiàn)貨日本otsukae日本進口多通道光譜儀$n多功能多通道光譜探測器，支持紫外到近紅外區(qū)域。頻譜測量僅需 5ms 即可完成。用作標準設備的光纖使其可以與各種測量系統(tǒng)一起使用，而無需樣品類型。除了顯微光譜、光源發(fā)射、透射/反射測量之外，與軟件結合，還可以進行物體顏色評估、膜厚測量等。